Представители кафедры «Информационно-измерительная техника и метрология» приняли участие в выставке, посвященной Дню Российской науки

Выставка состоялась 8 февраля 2023 в «Доме офицеров». Аспирант 4-го года обучения кафедры «Информационно-измерительная техника и метрология» Олег Мельников продемонстрировал синтез оксидных покрытий с помощью разработанной автоматизированной системы. Аспирант 3-го года обучения Владислав Листюхин представил «Информационно-измерительную систему контроля параметров воздушных линий электропередачи».